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Chroma A712306 液晶模組自動測試探頭可與液晶模組自動測試系統(tǒng)整合進行液晶模組自動閃爍調(diào)整可整合Chroma 29XX系列液晶模組自動測試系統(tǒng)支援FMA和FLVL閃爍量測模式磚利調(diào)整演算法,調(diào)整速度快
product
產(chǎn)品分類品牌 | Chroma/致茂 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
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Chroma A712306 液晶模組自動測試探頭
主要特色:
Chroma A712306 LCM 自動測試系統(tǒng)用閃爍量測探頭,系專為液晶模組自動閃爍調(diào)整應(yīng)用所設(shè) 計,依循視頻電子標準協(xié)會(Video Electronics Standards Association, VESA)所規(guī)范的FMA (Flicker Modulation Amplitude)及JEITA(Japan Electronics and Information Technology Industries Association)量測方法進行閃爍程度的量測,搭配使用Chroma 291X系列液晶模組自動測試系統(tǒng)可達到自動閃爍調(diào)整的目的。
Chroma 291X系列液晶模組自動測試系統(tǒng)的主要目的為提供待調(diào)整液晶模組的電源及訊號,依據(jù)不同的介面及尺寸可選購不同的型號及配件,透過291x LCM ATS并可控制 A712306依據(jù)VESA所定義的FMA及JEITA 兩種量測方法將閃爍值取回, 據(jù)此進行判定,當閃爍值大于規(guī)格值時將透過閃爍調(diào)整介面對待測物進行Vcom電壓的調(diào)整,搭配磚利的閃爍調(diào)整演算法可快速的在數(shù)秒內(nèi)完成整個調(diào)整程序。Chroma 291X系列液晶模組自動測試系統(tǒng)所搭配的自動閃爍調(diào)整程式并可針對不 同型號的待測物編輯不同的腳本,不需再進行軔體的燒錄,可彈性的適用于市面上大部份具備數(shù)位Vcom功能的液晶模組,可有效提升生產(chǎn)業(yè)者的測試效率,降低測試設(shè)備及人工成本。
假如液晶顯示器的亮度變化如下圖所顯示,亮 度的AC成份等于Vmax-Vmin, 亮度DC成份等于 (Vmax+Vmin)/2。根據(jù)VESA FMA 計算公式:
FMA= AC lux. / DC lux. = (Vmax-Vmin)/{ (Vmax+Vmin)/2} x 100%
FLVL的量測方法,為將A712306的量測到的資 料,傳送到符合人眼感受flicker的濾波器中,再 將資料輸出到FFT分析儀,利用FFT分析儀得到不 同頻率的能量分布。JEITA標準Flicker計算方式: P0 表示頻率0時的功率頻譜 Px 表示在不同頻率時的功率頻譜。 Flicker amount = 10 x log (Px/P0) [dB]
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A712306 | 液晶模組自動測試系統(tǒng)用閃爍量測探頭 | |
Chroma A712306 液晶模組自動測試探頭