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Product Center當(dāng)前位置:首頁(yè)產(chǎn)品中心測(cè)試系統(tǒng)致茂測(cè)試系統(tǒng)7505-K007Chroma 7505-K007薄膜厚度自動(dòng)光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)
Chroma 7505-K007薄膜厚度自動(dòng)光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)適用於Roll To Roll印刷製程、Thin film等薄膜製程厚度檢測(cè)使用3D光學(xué)探頭,進(jìn)行非破壞性、快速表面厚度量測(cè)與分析使用陶瓷吸附平臺(tái),可將待測(cè)物吸附於平臺(tái)上使表面平整,亦不對(duì)待測(cè)物造成皺褶或破損3D厚度量測(cè)範(fàn)圍大可量測(cè)透明材質(zhì)高靜態(tài)量測(cè)重複精度高動(dòng)態(tài)量測(cè)重複精度具備腳本功能可進(jìn)行自動(dòng)量測(cè)
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產(chǎn)品分類(lèi)品牌 | Chroma/致茂 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,交通 |
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Chroma 7505-K007薄膜厚度自動(dòng)光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)
主要特色:
Chroma 7505-K007薄膜厚度自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)主要整合3D光學(xué)探頭,進(jìn)行非破壞性、快速表面厚度量測(cè)與分析,適用於Roll To Roll印刷製程、Thin film等薄膜製程厚度檢測(cè)。同時(shí)配備陶瓷吸附平臺(tái),可將待測(cè)物吸附於平臺(tái)上使表面平整,亦不對(duì)待測(cè)物造成皺褶或破損,3D厚度量測(cè)範(fàn)圍大、設(shè)備靜態(tài)重複精度高與設(shè)備動(dòng)態(tài)重複精度高,具備Recipe功能可進(jìn)行自動(dòng)量測(cè),此外系統(tǒng)亦提供檢測(cè)數(shù)據(jù)資料的存檔功能,供後續(xù)操作人員處理分析使用。
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Model | 敘述 | 詢(xún)價(jià) |
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7505-K007 | 薄膜厚度自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng) |
Chroma 7505-K007薄膜厚度自動(dòng)光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)